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Analyse de défaillance du composant électronique
Recherche des causes physiques d’une défaillance

Analyse de défaillance - Tame-Component

L'analyse de défaillance tient dans la réalisation de tests sur un composant déterminé qui est soupçonné d'avoir été à l'origine d'une panne afin de déterminer son état et la cause de la défaillance. Les tests sont réalisés du moins destructif (contrôle visuel externe) au plus destructif (analyse interne) pour mettre en évidence le défaut physique à l'origine du défaut électrique du composant.

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